閎康引領半導體檢測新時代：全台首部超埃米TEM正式啟用，推動2奈米以下製程
來源： ETtoday
半導體檢測大廠閎康宣布在竹科矽導實驗室導入全台首部超埃米解析球差校正穿透式電子顯微鏡（Cs Corrector TEM），以協助晶圓代工大廠開發2奈米以下製程。此設備可分析GAAFET、FinFET等先進晶體管結構，提供Foundry、IDM、高階封裝與IC設計廠完整的MA及FA服務。此外，閎康在量子元件分析領域取得技術突破，並擴大AI晶片功耗與可靠性驗證設備投資，預計將提升公司在全球市場的領導地位。
重點整理
閎康在竹科矽導實驗室導入全台首部超埃米解析球差校正穿透式電子顯微鏡，協助開發2奈米以下製程。
該設備適用於GAAFET、FinFET等先進晶體管結構分析，提供Foundry、IDM等完整的MA及FA服務。
閎康在量子元件分析領域取得技術突破，成功建立量子點元件3D影像技術。
公司擴大投資AI晶片功耗與可靠性驗證設備，預計第四季起提升營收動能。
閎康董事長謝詠芬表示將持續深化技術研發與資本投入，拓展海外市場，鞏固全球領導地位。
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